检测项目
1.焊点脆性测试:焊球剪切强度测试,焊点界面金属间化合物分析,热循环后焊点断裂模式观察。
2.基板材料脆性:弯曲强度测试,断裂韧性测试,层压板抗分层性能检测。
3.封装材料脆性:环氧模塑料玻璃化转变温度测定,封装体弯曲强度,填料与树脂界面结合力测试。
4.键合线脆性:金线或铜线拉力测试,球颈断裂强度测试,高温老化后键合强度变化。
5.陶瓷元件脆性:抗弯强度测试,韦伯模数测定,热震可靠性测试。
6.玻璃材料脆性:显微硬度测试,裂纹扩展抗力测试,表面抗划伤性能检测。
7.金属镀层脆性:镀层结合强度测试,镀层延展性测试,氢脆敏感性检测。
8.塑封料脆性:冲击强度测试,断裂伸长率测定,低温脆化温度测试。
9.硅片脆性:晶圆弯曲强度测试,边缘崩缺检测,纳米压痕硬度与模量测定。
10.导电胶脆性:粘接接头剪切强度,胶体本体断裂韧性,热老化后性能衰减测试。
11.散热基板脆性:氮化铝或氧化铝基板抗弯强度,金属化层附着强度,热循环可靠性测试。
12.密封材料脆性:玻璃熔封或金属封接的抗拉强度,气密性测试后的微观裂纹检测。
检测范围
集成电路芯片、发光二极管芯片、片式电阻与电容、半导体晶体管、陶瓷电容器、石英晶体谐振器、微机电系统传感器、电连接器、电磁继电器、光电耦合器、绝缘栅双极型晶体管模块、射频功率器件、各类半导体封装体、二极管与三极管、金属氧化物半导体场效应管、电源管理模块、存储芯片、射频识别标签芯片、传感器模组、晶圆
检测设备
1.微力万能试验机:用于执行精密的拉伸、压缩、弯曲与剪切测试,以获取材料的强度、弹性模量及断裂能等力学参数。
2.动态机械分析仪:通过施加振荡力,测量材料在不同温度与频率下的粘弹性行为,精确测定玻璃化转变温度,测试低温脆性。
3.纳米压痕仪:在纳米尺度上测量材料的硬度与弹性模量,适用于薄膜、镀层及微小区域的材料脆性表征。
4.三点弯曲试验机:专门用于测试脆性材料如陶瓷、玻璃或硅片的抗弯强度与断裂韧性。
5.冲击试验机:通过摆锤或落锤冲击样品,快速测试材料在高速载荷下的脆性断裂行为与冲击强度。
6.振动试验台:模拟产品在运输或使用中受到的周期性机械应力,测试其结构疲劳特性与潜在脆性断裂风险。
7.热冲击试验箱:使样品在极端高低温之间快速转换,通过热应力诱发脆性失效,测试材料的抗热震性能。
8.扫描电子显微镜:对测试后的断裂面进行高倍率显微观察,分析断裂模式、裂纹起源与扩展路径,是脆性失效分析的核心设备。
9.声发射检测仪:在材料受力过程中实时监测其内部因裂纹产生与扩展释放的弹性波,用于定位损伤和测试脆性断裂过程。
10.X射线衍射应力分析仪:无损测量材料表面或内部的残余应力,过高或分布不均的残余应力是导致脆性开裂的重要因素。
北京中科光析科学技术研究所【简称:中析研究所】
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师.
合作客户(部分)
1、自创办以来和政、企、军多方多次合作,并获得众多好评;
2、始终以"助力科学进步、推动社会发展"作为研究院纲领;
3、坚持科学发展道路,统筹实验建设与技术人才培养共同发展;
4、学习贯彻人大精神,努力发展自身科技实力。